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Schachbrett-Kalibrierstandard für die SEM-Bildgebung

Der Schachbrett-Kalibrierstandard ist ein präzises Instrument zur Vergrößerungs- und Bildkalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen (REM). Er besteht aus einem komplexen Schachbrettmuster mit Strukturgrößen von 1µm bis 5mm, hergestellt aus 60nm dickem Chrom auf einem leitfähigen Siliziumsubstrat. Der Standard eignet sich für Vergrößerungen von 20x bis 50.000x mit einer Genauigkeit von ±0,1% und ist NIST-rückführbar. Er ist sowohl für die Kalibrierung als auch für die Überprüfung von Bildverzerrungen geeignet und in verschiedenen Montageoptionen erhältlich.
Artikel für gruppiertes Produkt
Artikelname Menge
Schachbrett-Kalibrierstandard, nicht montiert, 1 Stück

MN31-T37000-U

666,90 € 793,61 €
Schachbrett-Kalibrierstandard, auf Ø12,7 mm Standard Stiftprobenteller, 1 Stück

MN31-T37000-1

678,30 € 807,18 €
Schachbrett-Kalibrierstandard, auf Ø12,7mm Zeiss Stiftprobenteller, 1 Stück

MN31-T37000-2

678,30 € 807,18 €
Schachbrett-Kalibrierstandard, auf Ø12,2mm JEOL Probenteller, 1 Stück

MN31-T37000-6

678,30 € 807,18 €
Schachbrett-Kalibrierstandard, auf Ø15mm Hitachi M4 Probenteller, 1 Stück

MN31-T37000-8

678,30 € 807,18 €

Produktdetails

Beschreibung

Der Schachbrett-Kalibrierstandard: Präzision für die REM-Bildgebung Der Schachbrett-Kalibrierstandard ist ein hochpräzises Instrument für die Vergrößerungs- und Bildkalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen (REMs) und Kompakt-REMs.

Seine einzigartige Struktur besteht aus über 1,6 Millionen Quadraten, die ein vierstufiges Schachbrettmuster bilden: 

  1. Kleinste Einheit: 1 x 1µm Quadrate
  2. 10 x 10µm Schachbretter
  3. 100 x 100µm Schachbretter
  4. 1 x 1mm Schachbretter
  5. Gesamtmuster: 5 x 5mm

Jedes Schachbrett befindet sich innerhalb eines Feldes eines größeren Schachbretts, das wiederum in einem noch größeren Schachbrett liegt und dieses wiederum nur ein Teil eines weiteren Schachbretts ist. Es gibt vier Ebenen an Schachbrettmustern bis zur kleinsten Quadratstruktur 
von 1 x 1µm.

Hergestellt wird der Standard durch Auftragen von 60nm dickem Chrom auf ein ultraflaches, leitfähiges, mit Bor dotiertes <100> Siliziumsubstrat. Diese Materialwahl gewährleistet Inertheit unter normalen Arbeitsbedingungen und bietet exzellenten Kontrast sowohl bei SE- als auch bei BSE-Abbildungen. 

 

Technische Spezifikationen: 

  • Kalibrierungsbereich: 20x bis 50.000x Vergrößerung
  • Abstandgenauigkeit: ± 0,1% in X- und Y-Richtung
  • Gesamtgröße: 6 x 6mm bei 675µm Dicke
  • Substratwiderstand: 5-10Ohm-cm

Der Standard ist NIST-rückverfolgbar und wird mit einem entsprechenden Zertifikat geliefert. Er eignet sich hervorragend zur Überprüfung von Bildverzerrungen und der Genauigkeit von (motorisierten) REM-Tischen. Erhältlich ist der Schachbrett-Kalibrierstandard sowohl unmontiert als auch auf gängigen SEM-Probenhaltern montiert, was ihn zu einem vielseitigen Werkzeug für verschiedene REM-Systeme macht. Zusammenfassend bietet der Schachbrett-Kalibrierstandard eine schnelle, einfache und äußerst präzise Methode zur Kalibrierung und Bildkontrolle in der Rasterelektronenmikroskopie, unterstützt durch seine langlebige Konstruktion und praktisch inerte Materialien.

Weitere Informationen

Weitere Informationen
Hersteller
k. A.
Typ
Kalibrierstandards
Vergrößerung Mittlere Vergrößerung, Hohe Vergrößerung
Verpackungseinheit 1 Stück
Versandklasse
Standard

Wird oft gemeinsam gekauft