Silizium Nitrid (SiN) TEM Window Grids mit durchgängigem Film, Quadrate und Schlitze

Der Siliziumrahmen ist 100µm dick. Die SiN TEM Window Grids passen in normale 3mm- und die meisten Double-Tilt-Probenhalter.

Erhältliche Dicken: 5, 10, 15, 20, 30, 50, 100 und 200nm

Fenster: Quadrate oder Schlitze in den Größen 0,01, 0,025, 0,05, 0,1, 0,15, 0,25, 0,5, 1mm oder Arrays.

Artikel für gruppiertes Produkt
Artikelname	Menge
SiN TEM Fenster, 8x 0,1mm Quadrate, 1x 0,1x0,35mm Schlitz, 20nm Filmdicke, 10 Stück E76042-48 314,50 € 374,26 €
SiN TEM Fenster, 8x 0,25mm Quadrate, 1x 0,25x0,5mm Schlitz, 10nm Filmdicke, 10 Stück E76042-47 314,50 € 374,26 €
SiN TEM Fenster, 8x 0,1mm Quadrate, 1x 0,1x0,35mm Schlitz, 10nm Filmdicke, 10 Stück E76042-46 314,50 € 374,26 €
SiN TEM Fenster, 8x 0,05mm Quadrate, 1x 0,05x0,1mm Schlitz, 5nm Filmdicke, 10 Stück E76042-44 481,10 € 572,51 €

Produktdetails

Eigenschaften:

Plasmareinigung möglich - Entfernung von organischen Verunreinigungen
Hochhitzebeständig - bis zu 1000°C und mehr
Mechanische Robustheit - halten auch anspruchsvollen experimentellen Bedingungen stand
Flach, isolierend und hydrophob - LPCVD, „low-stress“ SiN (<250MPa), nicht-kristallines SiN mit <0,5nm Rauigkeit
Chemisch inert - beständig gegenüber Säuren (mit Ausnahme von HF), Basen und Lösungsmitteln
Resistent gegen hohe Strahlstromstärken
Kohlenstofffrei und ultra-rein
Gute Röntgen- und e-Strahl-Transmission
Kompatibel – passen in normale 3mm TEM-Probenhalter, achteckig (daher auch gut mit der Pinzette aufnehmbar)
Homogen – <0,5nm Variation in der Filmdicke nicht nur im einzelnen Grid sondern über eine komplette Produktions-Log hinweg

Anwendungsgebiete:

Environmental TEM (dynamische Prozesse bei hohen Temperaturen)
Nanopartikel-Untersuchung
Charakterisierung von Materialien aus den Bereichen Nano, Halbleiter, optische Kristalle, funktionale Materialien u.v.m.
(Quantitative) Kohlenstoff-Analyse (z.B. Fotolack, Polymere, Nahrung, Öl, Kraftstoffe)
Kristallzüchtung
Röntgen-Mikroskopie and Röntgen-Spektroskopie
Dünnfilm-Forschung
In-situ-Charakterisierung von chemischen Reaktionen und Temper-Effekten
Beobachtung biologischer Systeme durch gute Biokompatibilität: Wachstum von Zellen oder anderen biologischen Einheiten direkt auf dem Film
Charakterisierung von Kolloiden, Aerogelen, organischen Materialien, Halbleitern, Kristallen und Nanopartikeln

Empfohlene Anwendunge

	SiN Film-Dicke	Produktbeispiele und Fenstergröße
Höchstauflösung	5nm	E76042-43, 1 Quadrat (0,025mm) E76042-44, 8 Quadrate (0,05mm), 1 Slot (0,05x0,1mm) E76042-45, 2 Slots (0,05x1,5mm)*
Hohe Auflösung	10nm	E76042-46, 8 Quadrate (0,1mm), 1 Slot (0,1x0,35mm) E76042-47, 8 Quadrate (0,25mm), 1 Slot (0,25x0,5mm) YSG010Z, 1 Quadrat (0,1mm) YSG015Z, 1 Quadrat (0,15mm) YSG025Z, 1 Quadrat (0,25mm) YSG050Z, 1 Quadrat (0,5mm) YSAR010Z, 9 Quadrate (0,1mm)
Routine	20nm	YSG001AT, 1 Quadrat (0,01mm) E76042-48, 8 Quadrate (0,1mm), 1 Slot (0,1x0,35mm) E76042-49, 1 Quadrat (0,5mm) E76042-50, 9 Quadrate (0,1mm)
Herausfordernde Bedingungen	50nm	E76042-53, 1 Quadrat (0,1mm) E76042-52, 1 Quadrat (0,5mm) E76042-51, 1 Quadrat (1mm) YSTA015C, 2 Slots (0,1x1.5mm) E76042-50, 9 Quadrate (0,1mm)
Materialien in Lösung & Cryo-TEM	Microporös, nanoporös	E76042-41, 1 Quadrat (0,5mm) E76042-40, 1 Quadrat (0,5mm) YSME050B, 1 Quadrat (0,5mm), 2,8μm Löcher YSME050C, 1 Quadrat (0,5mm), 2,0μm Löcher YSME050C10, 1 Quadrat (0,5mm), 10μm Löcher YSME050E05, 1 Quadrat (0,5mm), 5μm Löcher YSNP-TE025B, 1 Quadrat (0,25mm), 20-200nm Löcher, 50nm SiN YSNP-TE010D, 1 Quadrat (0,1mm), 20-200nm Löcher, 200nm SiN u.v.m.