Silizium Nitrid TEM Grids
(5)Silizium-Nitrid (SiN) TEM Window Grids verfügen über eine ebenmäßig flache und im Verhältnis zur Dicke relativ robuste Siliziumnitrid-Membran, welche für die Probenuntersuchung in TEM, Cryo-EM, AFM, Raman, XRD und anderen Methoden als stabile, transparente Unterlage dienen kann. Anwendungen reichen von Nanopartikel-Untersuchungen und quantitativer Karbonanalyse über Kristallwachstum bis hin zu vielen anderen chemischen und biologischen Experimenten. SiN TEM Window Grids können unter schwierigsten Bedingungen verwendet werden und bieten höchste Bildauflösung, chemische Stabilität und mechanische Widerstandskraft. Durch ihre hohe Temperaturresistenz können z.B. Nanotechnologie-, materialwissenschaftliche oder auch biologische Experimente direkt auf der Membran durchgeführt werden - über ein breites Temperaturspektrum hinweg.
Die Siliziumrahmen sind in der Regel 100µm oder 200µm dick. SiN TEM Membran Grids passen in normale 3mm Halter und auch in die meisten Double-Tilt-Halter.
Übliche SiN Filmdicken sind 15, 20, 30, 50, 100 und 200nm. Sonderanfertigungen sind auf Anfrage möglich.